4月19日，中國(guó)電子學(xué)會(huì)正式公布了2025年度中國(guó)電子學(xué)會(huì)科學(xué)技術(shù)獎(jiǎng)評(píng)審結(jié)果。我院詹文法教授牽頭，聯(lián)合悅芯科技股份有限公司、復(fù)旦大學(xué)、中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所共同完成的“高精度高效率多通道集成電路測(cè)試方法、設(shè)備及應(yīng)用”項(xiàng)目，榮獲技術(shù)發(fā)明二等獎(jiǎng)。這是我校在集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域取得的又一標(biāo)志性成果。

該成果此前已于2025年8月25日通過(guò)中國(guó)電子學(xué)會(huì)組織的科技成果鑒定。鑒定委員會(huì)由多位行業(yè)權(quán)威專(zhuān)家組成，經(jīng)聽(tīng)取報(bào)告、審閱資料、觀(guān)看成果演示及質(zhì)詢(xún)討論后，一致認(rèn)為：項(xiàng)目整體技術(shù)處于國(guó)內(nèi)領(lǐng)先地位，其中多通道信號(hào)同步等關(guān)鍵技術(shù)達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平。

項(xiàng)目面向集成電路測(cè)試依賴(lài)進(jìn)口設(shè)備、存在高精度、高效率及多通道測(cè)試等共性難題，發(fā)明了多通道分層協(xié)同架構(gòu)等核心方法，突破了芯片測(cè)試瓶頸技術(shù)，成功研制了T800系列和TP系列高端芯片自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。項(xiàng)目成果已在多家集成電路設(shè)計(jì)、制造及封測(cè)企業(yè)得到應(yīng)用驗(yàn)證，產(chǎn)生了顯著的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益，為推動(dòng)我國(guó)高端芯片測(cè)試裝備自主可控提供了有力技術(shù)支撐。

詹文法教授長(zhǎng)期深耕集成電路測(cè)試技術(shù)研究，注重產(chǎn)學(xué)研協(xié)同創(chuàng)新。此次獲獎(jiǎng)不僅是對(duì)其團(tuán)隊(duì)科研實(shí)力的高度認(rèn)可，也彰顯了我院在服務(wù)國(guó)家集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展戰(zhàn)略中的積極作為。學(xué)院將持續(xù)支持高水平科研團(tuán)隊(duì)建設(shè)，推動(dòng)更多原創(chuàng)性、突破性成果落地應(yīng)用。（撰稿、攝影：蔡雪原       編輯：田夢(mèng)甜     審核：章禮華  趙麗麗）